一种32位MCU的FPGA验证平台

• 作者: 刘云晶 刘梦影
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 微控制器 FPGA 原型验证 软硬件协同验证
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 41-47
• 页数: 7页
• 分类号: TN912.32
• 字数: 4302字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0111

摘要

随着应用的复杂化和多样化,微控制器(MCU)设计规模急剧增大,性能要求越来越高.为缩短芯片验证时间,提高验证效率,采用FPGA原型验证平台是一个有效的方法.通过建立基于FPGA的高性能原型验证系统,可及时发现芯片设计中的错误和不足,进而缩短MCU芯片研发周期.以一款通用MCU为研究对象,通过修改时钟系统,替换存储器和综合布局布线设计FPGA验证平台,并利用该平台进行软硬件协同验证,为该芯片的验证工作提供了高效有力的支撑.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘云晶		3	2	1.0	1.0
2	刘梦影		5	12	2.0	3.0