30mm厚TA1电子束焊接头疲劳断裂原因分析

• 作者: 李大东 白威
• 来源期刊: 钢铁钒钛
• 学科: 工学
• 关键词: TA1 焊接 电子束 组织 性能 疲劳断裂
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 钒钛材料与应用
• 页码范围: 59-64,69
• 页数: 7页
• 分类号: TF823
• 语种: 中文
• DOI: 10.7513/j.issn.1004-7638.2020.01.011

摘要

为探究30 mm板厚TA1电子束焊接头发生疲劳断裂的原因,针对接头开展疲劳试验,获得了接头S-N曲线及条件疲劳极限.针对TA1接头开展宏观、微观组织及力学性能检验,结合对典型低寿命接头的疲劳试样断口分析,获得了接头断裂特征.结果 表明:电子束焊接过程使TA1焊缝及热影响区得到强化,整个接头无明显软化区.TA1电子束焊接头S-N曲线数据符合线性拟合规律,其拟合的疲劳极限值163 MPa,为接头抗拉强度的48.7％,接头疲劳强度符合金属材料结构件疲劳设计的一般规律.焊缝内部“微米级”焊接气孔的存在是导致接头发生疲劳断裂的主要原因,部分接头则是因焊接夹渣导致疲劳断裂.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李大东	攀钢集团研究院有限公司钒钛资源综合利用国家重点实验室	10	4	1.0	2.0
2	白威	攀钢集团研究院有限公司钒钛资源综合利用国家重点实验室	5	3	1.0	1.0