RT3提高讲座(1)射线照相成像检验技术的细节识别理论

• 作者: 郑世才
• 来源期刊: 无损探伤
• 学科: 工学
• 关键词: 图像质量 细节识别 缺陷检验 射线照相
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 6-10,26
• 页数: 6页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

摘要

细节识别理论是射线照相成像检验技术的缺陷检验基本理论.20世纪60年代初,部分研究人员分别建立了细节识别理论,给出了丝、圆柱孔、矩形缝及球孔细节的形状、尺寸、图像质量参数及技术因素间的关系.至今,这些关系式仍然是射线照相成像检验技术的缺陷检验基本理论.本文简要介绍了细节识别理论的基本情况.