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摘要:
为降低辐射环境中单粒子功能中断(SEFI)对集成电路的影响,在研究单粒子功能中断原理的基础上,开展了DICE触发器抗单粒子功能中断技术研究.在深入分析单粒子功能中断的诱因的基础上,结合DICE触发器电路结构,设计了包含时钟冗余电路、主DICE锁存器、从DICE锁存器、延时滤波电路、相位转换电路的DICE触发器,得到了具有抗单粒子功能中断能力的加固DICE触发器.在仿真电路中,通过增加模拟单粒子效应(SEE)的电流源,仿真验证单粒子干扰(SED)对DICE触发器的影响.仿真结果表明,该加固DICE触发器具有良好的抗单粒子功能中断能力,可以有效抑制单粒子引起的DICE触发器功能中断.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 抗单粒子功能中断的加固技术研究
来源期刊 微处理机 学科 工学
关键词 单粒子 单粒子功能中断 DICE触发器 电流源
年,卷(期) 2020,(1) 所属期刊栏目 大规模集成电路设计、制造与应用
研究方向 页码范围 1-5
页数 5页 分类号 TN47
字数 2215字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-2279.2020.01.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘淼 中国电子科技集团公司第四十七研究所 3 2 1.0 1.0
2 牛英山 中国电子科技集团公司第四十七研究所 6 20 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
单粒子
单粒子功能中断
DICE触发器
电流源
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微处理机
双月刊
1002-2279
21-1216/TP
大16开
沈阳市皇姑区陵园街20号
1979
chi
出版文献量(篇)
3415
总下载数(次)
7
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