热氧老化对XLPE太赫兹频域介电特性的影响

• 作者: 于是乎 何宏明 余欣 张媛媛
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: XLPE 老化 太赫兹时域光谱 老化特性
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 53-58
• 页数: 6页
• 分类号: TM215
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2020.02.008

摘要

为了研究XLPE电缆绝缘的老化特性,对110 kV商用XLPE电缆绝缘在130℃下进行实验室加速老化实验.采用太赫兹时域光谱仪分别测试参考试样和XLPE试样的时域信号,经过快速傅里叶变换获得相应的频域信号,并计算XLPE试样在0.5～2.5 THz内的介电常数实部和虚部.通过差示扫描量热仪和傅里叶变换红外光谱研究老化过程中试样化学结构的变化.结果 表明:随着老化时间的延长,XLPE试样的结晶度减小,氧化产物增多,老化XLPE试样在0.5～2.5 THz的介电常数实部高于未老化试样,而介电常数虚部小于未老化试样.热老化过程中,XLPE发生了分子链断裂以及氧化反应,其化学结构被破坏,分子链段运动能力增强,导致XLPE在太赫兹频率的介电常数实部增大;老化导致XLPE的结晶度减小,晶格振动强度减弱,使得介电常数虚部减小.