基于概率统计的物理地址与逻辑地址映射关系提取方法

• 作者: 丁李利 张凤祁 王勋 罗尹虹 郭晓强 陈伟
• 来源期刊: 现代应用物理
• 学科: 工学
• 关键词: 概率统计 地址映射关系提取 单粒子翻转 多单元翻转
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 辐射效应及加固技术
• 页码范围: 22-26
• 页数: 5页
• 分类号: TN386.1
• 字数: 4376字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12061/j.issn.2095-6223.2020.020601

摘要

针对从单粒子翻转(SEU)实验数据中提取多单元翻转(MCU)信息时缺少物理地址与逻辑地址映射关系的问题,提出一种基于概率统计的物理地址与逻辑地址映射关系提取方法.通过逐位对比所有包含MCU信息的SEU数据的逻辑地址,统计逻辑地址间不同逻辑位的个数和位置,并分析逻辑位出现的频次,可得到物理地址和逻辑地址之间的映射关系.用重离子试验数据对该方法进行验证,结果表明,该方法能够获取MCU信息提取中最重要的地址映射信息,与逆向工程相比,能在不明显降低MCU提取精度的情况下,节省研究时间和经费.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈伟		95	286	8.0	11.0
2	丁李利		12	26	3.0	4.0
3	郭晓强		27	152	7.0	11.0
4	王勋		5	12	2.0	3.0
5	张凤祁		3	10	2.0	3.0
6	罗尹虹		2	5	1.0	2.0