AgCuV合金导电滑环内部缺陷产生原因分析

• 作者: 焦磊 王峰 韩天棋 齐岳峰
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 导电滑环 超声检测 AgCuV合金 裂纹 元素偏析 第二相
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 质量控制与失效分析
• 页码范围: 35-38,51
• 页数: 5页
• 分类号: TG146
• 字数: 1967字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/lhjy-wl202002009

摘要

AgCuV合金导电滑环在进行超声检测时发现有内部缺陷的存在.采用化学成分分析、超声检测、金相检验、扫描电镜及能谱分析等方法对缺陷产生的原因进行了分析.结果表明:AgCuV合金导电滑环经超声检测发现的内部缺陷是裂纹,脆性的含钒第二相与AgCu合金基体的结合力弱并且易碎,在应力集中处产生了微裂纹,微裂纹沿着第二相与基体结合力弱的部位扩展,最终导致AgCuV合金导电滑环内部缺陷的产生.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	齐岳峰		4	6	1.0	2.0
2	韩天棋		2	0	0.0	0.0
3	焦磊		2	0	0.0	0.0
4	王峰		6	9	2.0	3.0