一种单粒子软错误测试系统的硬件设计与实现

• 作者: 吴昊 朱启 王健 赖晓玲 郭阳明 黄小平
• 来源期刊: 建模与仿真
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA CPU 单粒子效应 单粒子软错误 测试系统
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 页码范围: 293-302
• 页数: 10页
• 分类号: TP3

摘要

空间飞行器数字系统工作在含有大量辐射粒子的宇宙环境下,单粒子软错误会对飞行器的安全性、可靠性造成很大威胁,亟需建立单粒子软错误测试系统以完成对象数字系统的测试。论文以Xilinx公司的XC5VFX130T SRAM型FPGA和TI公司的TMS570LS3137型号CPU器件及其构建的数字系统为对象,分析了软错误测试系统的功能需求,提出了系统总体结构,进而定义功能、划分模块,设计了监控FPGA和上位机之间的通讯协议,从监控FPGA、被测FPGA和CPU,对硬件平台和系统逻辑进行了设计和实现。