ADS液晶面板划痕Mura研究

• 作者: 廖燕平 朴正淏 李哲 李承珉 李晓吉 栗鹏 赵彦礼 辛兰 邵喜斌 闵泰烨
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶显示面板 按压痕迹 方位角 突变角度
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 31-40
• 页数: 10页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 5320字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20203501.0031

摘要

手指滑动ADS(Advanced Super Dimension Switch)液晶面板的L255画面时,由于按压导致的液晶分子形变和电场作用,滑动位置亮度会降低,表现为留下发暗的按压的痕迹.如果该痕迹在按压5 s后不能恢复,我们称之为划痕Mura(Trace Mura).本文通过对比5种不同像素设计的液晶面板的滑动按压实验的结果,得到了像素电极设计、驱动电压对Trace Mura的影响;进一步模拟分析液晶分子状态,得到判断不同像素设计的Trace Mura风险的模拟方法.主要结论如下:首先,像素电极尾部设计对于Trace Mura改善方面,弧角设计优于切角设计,切角设计优于开口设计;像素电极间距(Space)越小,Trace Mura风险越小.其次,Trace Mura需要在高灰阶电压下按压划动液晶面板才能发生;而发生Trace Mura的液晶面板,可以通过降低液晶面板的电压灰阶来消除按压痕迹.最后,对比液晶分子状态模拟结果,确认在电极末端的液晶分子方位角会发生突变(即向相反方向偏转),模拟的突变角度在-15°以上,预测有Trace Mura风险.