RM逻辑伪装门的硬件混淆设计

• 作者: 吴秋丰 张会红 张跃军 汪鹏君
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 硬件安全 Reed-Muller逻辑 逻辑混淆 逆向工程
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 页码范围: 135-141
• 页数: 7页
• 分类号: TN402
• 字数: 3509字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19665/j.issn1001-2400.2020.02.018

摘要

为了提高集成电路抗逆向工程的能力,通过对逻辑混淆技术的研究,提出了一种基于Reed-Muller伪装门的逻辑混淆设计方案.该方案首先在同一版图上采用不同虚拟孔配置实现基本单元异或门/与门逻辑功能,并提取逻辑混淆单元的特征信息制作标准单元库;然后利用随机插入算法将混淆标准单元电路应用于电路网表;最后采用基准电路验证所提方案的有效性.仿真结果显示,Reed-Muller逻辑伪装门比标准单元库的版图相似度提高了14.36％,而较大规模测试电路功耗额外开销仅为2.36％.仿真结果表明,所设计的伪装门可以有效地防御逆向工程,提高了电路的硬件安全.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪鹏君	宁波大学信息科学与工程学院	137	551	11.0	14.0
3	张会红	宁波大学信息科学与工程学院	38	125	7.0	9.0
4	张跃军	宁波大学信息科学与工程学院	38	97	5.0	8.0
7	吴秋丰	宁波大学信息科学与工程学院	1	0	0.0	0.0