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摘要:
发现并解释了一种在逆变器输出阻抗高频处因数字控制延时而产生的“阻抗谷”的现象.在此阻抗谷处,逆变器输出阻抗的幅值急剧下降,而相位明显上升.通过波特图和复频域表征这两种方式,详细分析了电流环动态及数字控制延时对单电流环控制型逆变器的dq坐标系输出阻抗的影响,通过研究逆变器的输出阻抗模型,获得了阻抗谷的来源及其与电流环动态和延时大小之间的关系.同时,通过d-d通道阻抗匹配和广义奈奎斯特判据GNC (generalized Nyquist criterion),研究了阻抗谷对并网逆变器稳定性的影响.通过分析发现,电流环的动态和延时大小的改变均会导致d-d通道输出阻抗的幅度和相位发生剧烈变化,从而导致并网系统发生振荡.最后,实验结果验证了分析的正确性.
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文献信息
篇名 基于阻抗的数字延时对单电流环控制型并网逆变器稳定性影响的分析
来源期刊 电源学报 学科 工学
关键词 并网逆变器 数字延时 阻抗 稳定性
年,卷(期) 2020,(2) 所属期刊栏目 电力电子与电力系统集成
研究方向 页码范围 63-72
页数 10页 分类号 TM46
字数 4005字 语种 中文
DOI 10.13234/j.issn.2095-2805.2020.2.63
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘进军 西安交通大学电气工程学院 113 2418 24.0 48.0
2 刘增 西安交通大学电气工程学院 13 61 4.0 7.0
3 屠一鸣 西安交通大学电气工程学院 2 0 0.0 0.0
4 薛丹红 西安交通大学电气工程学院 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
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并网逆变器
数字延时
阻抗
稳定性
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电源学报
双月刊
2095-2805
12-1420/TM
大16开
天津市南开区黄河道467号大通大厦16层
2002
chi
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