InSb多元探测器玻璃杜瓦贮存寿命研究

• 作者: 司俊杰 孟超 张宏飞 王洋
• 来源期刊: 航空兵器
• 学科: 工学
• 关键词: 探测器 InSb 寿命试验 贮存寿命 玻璃杜瓦
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 综合基础技术
• 页码范围: 92-96
• 页数: 5页
• 分类号: TN215|TJ760.7
• 字数: 3534字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12132/ISSN.1673-5048.2019.0049

摘要

InSb红外探测器是红外系统的核心部件,探测器的寿命在很大程度上决定着系统的寿命,直接影响着系统的使用及保障.因此,探测器的寿命如何评价及采用何种试验方法来评价至关重要,但由于红外系统的敏感性,可查阅的国外资料比较少,并且寿命试验周期长、费用高,国内至今未形成有效的寿命试验、分析与评价方法.本文采用15个InSb多元探测器开展了贮存试验研究,应力水平分别为70℃、80℃、90℃.测试试验过程中不同温度下热负载的变化,对试验数据进行统计分析及处理,获得了寿命加速模型t=2.18×10-8·exp(0.79/KT),激活能为0.79 eV,评估了探测器在30℃下寿命可以达到30.76年.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张宏飞		12	44	4.0	6.0
2	司俊杰		33	160	7.0	11.0
3	王洋		1	0	0.0	0.0
4	孟超		8	24	3.0	4.0