基于激光测量的航发叶片表面几何缺陷识别技术

• 作者: 孙彬 李兵 杜虎兵 王建华 赫东锋
• 来源期刊: 自动化学报
• 关键词: 激光位移传感器 航发叶片 测量 缺陷识别
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 论文与报告
• 页码范围: 594-599
• 页数: 6页
• 字数: 4773字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16383/j.aas.c180080

摘要

针对航发叶片修复检测的应用,提出了一种基于截面线一阶导矢法的叶片型面缺陷识别方法.该方法是以等高线法处理测量点云中的截面数据,通过B样条插值函数拟合成光滑曲线;再由B样条曲线的一阶导矢公式求出每个测点的一阶导数,然后以点斜公式求出截面曲线上各个测点的切线;如果曲线光滑,曲线上测点的斜率变化在两端点斜率值之间,否则表明曲线上有缺陷存在;根据k-d树的最近点搜索算法,遍历整个叶盆(叶背)就可以找到叶盆(叶背)上的缺陷区域.通过与三坐标测量实验比对,该技术可以实现3 μm精度的缺陷识别.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王建华	西安工业大学机电工程学院	81	400	10.0	16.0
2	赫东锋	西安工业大学机电工程学院	23	76	5.0	7.0
3	李兵	西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室	84	1641	20.0	38.0
4	杜虎兵	西安工业大学机电工程学院	14	16	3.0	3.0
5	孙彬	西安工业大学机电工程学院	11	8	2.0	2.0