一种低掉电率的采样保持电路

• 作者: 徐大伟 林联科 程新红
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 采样保持电路 运算放大器 掉电率 导通电阻 功耗
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 半导体集成电路
• 页码范围: 188-194
• 页数: 7页
• 分类号: TN43
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2020.03.003

摘要

设计了一种低掉电率、低功耗的采样保持电路.在电路保持阶段,将采样开关偏置在深积累区以减小亚阈值区电流,此时仍有源漏耦合电流,在采样开关源漏间加入高增益运算放大器,利用放大器的失调电压进行源漏耦合漏电补偿.考虑到失调电压的随机性,在采样开关源漏间并联一个体端偏置在高压的PMOS管以减小泄漏电流.此外,对栅压自举开关进行了改进,对于不同的输入信号,利用运算放大器和逻辑控制单元,得到恒定的导通电阻.采用Cadence Spectre软件的蒙特卡洛模型分别仿真了采样电路在-20,25和125℃下的掉电率,后仿真结果表明,室温下,在输入为0～2V、采用±5 V电源供电时,采样保持电路掉电率为0.67 mV/s,捕获时间为3μs,采样开关导通电阻为1.5～2.5 kΩ,芯片面积为195 μm×154 μm,整体功耗为1.106 mW.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程新红	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	14	34	4.0	5.0
2	徐大伟	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	4	0	0.0	0.0
3	林联科	中国科学技术大学微电子学院	1	0	0.0	0.0