浅谈电子元器件可靠性评价与质量控制策路

• 作者: 唐旭 张全 贠发红 贺卿
• 来源期刊: 航天标准化
• 关键词: 电子元器件 可靠性评价 质量控制
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 航天元器件
• 页码范围: 40-42
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

电子元器件的可靠性决定了电子设备的可靠性,对电子元器件进行可靠性分析,是判断一个电子设备是否稳定的决定性因素.电子元器件可靠性评价主要有芯片级可靠性评价和微电子结构测试可靠性评价,可以采取使用前筛选、进行破坏性物理分析、生产基线管控、风险管理和规范使用等质量控制策略.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张全		2	5	1.0	2.0
2	贺卿		1	0	0.0	0.0
3	贠发红		1	0	0.0	0.0
4	唐旭		1	0	0.0	0.0