基于VIF特性分析的电路板故障诊断方法研究

• 作者: 安斌来 李光升 欧博 魏宁
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: VIF特性曲线 参数获取 故障诊断
• 年，卷（期）: 2020,（7）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 14-18,23
• 页数: 6页
• 分类号: TM933
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2020.07.004

摘要

VIF特性曲线即伏特-安培-频率特性曲线;分立元件或集成芯片是电路板故障的最小可隔离单元,元器件的损坏或特性改变是电路板故障的最根本原因;针对元件参数获取的问题,采用基于VIF特性分析的方法,对常见元器件进行了分析,并模拟了常见的故障模式,分析其VIF特性曲线特征,总结了各类组合元件曲线变化规律,针对某型灭火抑爆系统电路板的容性故障和感性故障进行了诊断,效果显著.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李光升	陆军装甲兵学院兵器与控制系	12	18	2.0	4.0
2	魏宁	陆军装甲兵学院兵器与控制系	5	0	0.0	0.0
3	欧博	陆军装甲兵学院兵器与控制系	2	4	1.0	2.0