X线头影测量长度相关指标与全颅底长的回归分析

• 作者: 刘加强 周志捷 孙仪庭 林怡君 王天鸽 陈昱
• 来源期刊: 中华口腔正畸学杂志
• 关键词: X线头影测量 全颅底长 回归分析
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 187-190
• 页数: 4页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3760/cma.j.cn115797-20200303-20402

摘要

目的:探讨颅面自身大小对X线头影测量分析中长度相关指标的影响，并以全颅底长为内部参照，建立回归方程。方法:回顾性分析33例患者的头颅定位侧位片。选取18个标志点测量25个长度相关指标，采用全颅底长代表颅面大小，分析这些长度测量指标与全颅底长的回归关系。结果:所有测量指标与全颅底长都呈正相关，除U6-PP外，其他指标与全颅底长的回归方程均有统计学意义。结论:X线头影测量长度相关指标与全颅底长关系密切，在对长度测量值进行数据分析时，应考虑颅面自身大小对其的影响。