镀层厚度测量结果对比研究

• 作者: 彭浩 柳华光 武利会 黄杰
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 管壳 镀层厚度 X射线光谱法
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 通用测试
• 页码范围: 21-24
• 页数: 4页
• 分类号: TH821.1|TG174.4
• 语种: 中文

摘要

镀层是管壳抗腐蚀能力的重要部分,镀层厚度的测量准确性也成为人们关注的重点.采用SJ20129中规定的两种测量方法对某管壳进行镀覆层厚度的测量,将测量结果进行对比分析,并分析了误差产生的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭浩		12	5	1.0	2.0
2	黄杰		16	17	2.0	4.0
3	柳华光		4	0	0.0	0.0
4	武利会		2	0	0.0	0.0