薄壁结构工业CT尺寸测量误差与极限

• 作者: 史亦韦 王倩妮 胡正伟 陈子木
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 薄壁结构 工业CT 尺寸测量 测量极限
• 年，卷（期）: 2020,（8）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 169-176
• 页数: 8页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文
• DOI: 10.11868/j.issn.1001-4381.2019.000286

摘要

针对增材制造复杂构件中薄壁结构的高精度尺寸测量需求,推导了薄壁结构经工业CT系统成像后的图像灰度分布函数及边界位置特征,并对比分析了半高宽法和最大灰度梯度法的适用范围,计算了基于CT成像的尺寸测量极限.通过对校准尺寸的薄壁结构进行工业CT扫描成像实验,测量不同厚度薄壁结构的壁厚尺寸.结果表明:对于尺寸大于CT成像系统可测壁厚尺寸极限的薄壁结构,半高宽法相比最大灰度梯度法测量误差更小.薄壁结构尺寸测量极限可通过实验测量CT成像系统的边扩散函数后利用计算模拟的方法获得.