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漏电流和寄生电容引起的DRAM故障识别
漏电流和寄生电容引起的DRAM故障识别
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摘要：
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太阳电池阵寄生电容影响分析与对策
航天器
太阳电池阵
寄生电容
影响分析
对策
三维互连线寄生电容提取算法的设计和实现
电容提取
边界元方法
互连线
一种减少VDMOS寄生电容的新结构
VDMOS
电容
TCAD
开关时间
高压系统安规Y电容及寄生电容应用研究
Y电容
电动客车
测试分析
优化方案
内容分析
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文献信息
| 篇名 | 漏电流和寄生电容引起的DRAM故障识别 | ||
| 来源期刊 | 中国电子商情·基础电子 | 学科 | |
| 关键词 | |||
| 年，卷（期） | 2020,（5） | 所属期刊栏目 | 制造与测试 |
| 研究方向 | 页码范围 | 40-43 | |
| 页数 | 4页 | 分类号 | |
| 字数 | 1256字 | 语种 | 中文 |
| DOI | |||
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