某核电站压力容器O形密封环泄漏原因分析

• 作者: 李卫军 王浩 田大容 郑宏练 魏光强
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: O形密封环 压力容器 密封 泄漏 镀银层
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 质量控制与失效分析
• 页码范围: 41-45
• 页数: 5页
• 分类号: TG115
• 字数: 2717字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/lhjy-wl202004010

摘要

某核电站压力容器O形密封环发生泄漏.采用化学成分分析、尺寸分析、宏观分析、硬度测试、镀银层质量分析、微观分析等方法对泄漏原因进行了分析.结果表明:O形密封环与顶盖密封槽接触程度偏低,镀银层表面质量较差,降低了密封可靠性,导致O形密封环发生泄漏.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李卫军		16	46	3.0	6.0
2	王浩		9	10	2.0	3.0
3	魏光强		4	2	1.0	1.0
4	田大容		1	0	0.0	0.0
5	郑宏练		1	0	0.0	0.0