ECR离子源微波窗损伤机理研究

• 作者: 刘玉国 李公平 武启 潘小东 魏绪波
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 电子回旋共振离子源 微波窗 强流离子束 有限元
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 556-563
• 页数: 8页
• 分类号: TL503.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2019.youxian.0260

摘要

强束流下微波窗损坏是限制2.45 GHz电子回旋共振(ECR)离子源寿命的主要原因,为延长离子源使用寿命,对ECR离子源微波窗损伤机理进行了研究.利用有限元软件分别计算了Al2O3 陶瓷微波窗在微波、等离子体和回流电子束作用下的温度及应力分布.计算结果表明,在微波和等离子体作用下,微波窗边缘处应力最大,在电子束作用下,微波窗中心位置应力最大.增强水冷效果可降低微波和等离子体对微波窗的影响,增加Al2O3 陶瓷微波窗表面氮化硼(BN)的厚度可降低电子束的影响,从而减少微波窗损坏概率,延长离子源寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李公平	兰州大学核科学与技术学院	75	243	7.0	12.0
2	潘小东	兰州大学核科学与技术学院	25	66	5.0	6.0
3	魏绪波	兰州大学核科学与技术学院	4	9	1.0	3.0
4	刘玉国	中国科学院近代物理研究所	5	259	4.0	5.0
5	武启	中国科学院近代物理研究所	7	16	3.0	3.0