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摘要:
离子注入工艺稳定性的多个表征方法中,热波探针法快速、灵敏且无损,可用于离子注入工艺角度、注入剂量及均一性的表征.介绍了热波探针应用的理论依据和数据实例,并结合数据实例研究了热波探针法的应用特点和规律.当热波探针应用于离子注入角度表征时,需要保证前期机械校准的有效性及隧穿效应敏感区角度的选用.当应用于剂量准确性和均一性表征时,则需要将注入剂量控制在中、低等剂量范围内,避开隧穿效应敏感区,还需有效规避热晶圆效应.
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文献信息
篇名 热波探针在离子注入表征上的应用
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 离子注入 热波探针 角度 剂量 均一性
年,卷(期) 2020,(8) 所属期刊栏目 微电子制造与可靠性
研究方向 页码范围 52-56
页数 5页 分类号 TN305.3
字数 3635字 语种 中文
DOI 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0809
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研究主题发展历程
节点文献
离子注入
热波探针
角度
剂量
均一性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
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9543
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