低压铝电解电容器用腐蚀化成箔构效关系研究

• 作者: 何凤荣 方铭清 滕世国 肖远龙 陈锦雄
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 铝电解电容器 低压阳极箔 立方孔洞模型 比容 构效关系 压汞仪
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 37-41
• 页数: 5页
• 分类号: TM535
• 字数: 2883字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2020.01.007

摘要

本文利用SEM表征了低压铝电解电容器用高比容腐蚀箔的结构,采用立方孔模型建立了低压腐蚀化成箔的结构-性能关系,并通过压汞仪测试对所建模型进行验证.SEM结果表明,低压腐蚀箔呈现海绵状结构,蚀坑保持立方型孔洞.在实用情况下,对于22.4 V化成电压,最适孔径为0.20～0.24μm,最大比容为(185.3～227.6)×10-6 F·cm-2.压汞仪测试结果表明,建立的立方孔洞模型可以反映低压腐蚀箔结构特征.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何凤荣		3	0	0.0	0.0
2	肖远龙		3	0	0.0	0.0
6	陈锦雄		6	2	1.0	1.0
7	滕世国		4	0	0.0	0.0
8	方铭清		1	0	0.0	0.0