L-DSP片上调试电路的设计与实现

• 作者: 李帆 汪东 白创
• 来源期刊: 湖南大学学报（自然科学版）
• 关键词: 调试 片上调试 JTAG接口 DT-DMA DMA操作
• 年，卷（期）: 2020,（8）
• 所属期刊栏目: 计算机科学
• 页码范围: 69-73
• 页数: 5页
• 分类号: TN495
• 语种: 中文
• DOI: 10.16339/j.cnki.hdxbzkb.2020.08.008

摘要

针对L-DSP的调试需求,设计了一种基于JTAG接口的片上调试电路.该调试电路实现了存储资源访问、CPU流水线控制、硬件断点/观察点、参数统计等调试功能.相对于传统调试方式,本文电路通过增加DT-DMA模块,实现数据在外设与内存之间直接传输,极大地提升了调试效率.调试电路在0.18μm CMOS工艺下实现,面积为167234.76μm2,功耗为8.89 mW.同时,调试电路与L-DSP全芯片在FPGA下进行验证,结果表明,该调试电路调试功能完整且DT-DMA传输调试数据的速度是CPU传输的3倍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李帆	长沙理工大学物理与电子科学学院	15	31	3.0	4.0
2	白创	长沙理工大学物理与电子科学学院	12	17	2.0	4.0
6	汪东		1	0	0.0	0.0