一种X射线数字成像检测缺陷尺寸的测量方法

• 作者: 凡丽梅 张霞 王从科 董方旭 赵付宝 郑素萍
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: X射线数字成像检测 缺陷尺寸测量 波高比例
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 数字射线检测技术发展与应用专题
• 页码范围: 21-24
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 1899字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/wsjc202002005

摘要

提出了一种X射线数字成像检测缺陷尺寸的测量方法.借鉴半波高法,以半波高法下的尺寸测量误差为基准,对不同缝隙尺寸试样在相同的检测条件下进行X射线数字成像检测,计算该检测条件下的总不清晰度,总结出缺陷尺寸与总不清晰度比值同波高比例的关系,并通过试验进行了验证.结果 表明,该方法简单、实用性强,可为实现缺陷尺寸的准确测量提供技术支持.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董方旭		15	45	3.0	6.0
2	王从科		36	96	5.0	8.0
3	赵付宝		24	70	5.0	7.0
4	凡丽梅		25	64	4.0	7.0
5	张霞		37	160	7.0	11.0
6	郑素萍		24	63	4.0	7.0