全谱发射光谱仪应用于分析地质样品中的银锡硼钼铅

• 作者: 刘建坤 沈加林 陈宇 黄海波
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 地质样品 金属和非金属元素 全谱 发射光谱仪 二次拟合 分析谱线转换值
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 岩石矿物分析
• 页码范围: 555-565
• 页数: 11页
• 分类号: O657.31
• 字数: 7528字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.201909230137]

摘要

掌握地质样品中银锡硼钼铅的含量对于研究成矿规律和地球化学找矿极其重要,目前的分析方法很少能一次性准确高效检出银锡硼钼铅.本文在前人研究基础上建立了应用全谱发射光谱仪固体粉末进样,一次性高效、准确地分析检测地质样品中银锡硼钼铅的方法.采用国家一级标准物质(岩石、土壤和水系沉积物)对合成硅酸盐标准曲线进行第二次拟合以降低基体的干扰;设置元素分析谱线转换值实现元素分析谱线的简单切换,不同的样品含量使用不同的分析谱线,达到分析结果更加接近样品真值的效果,同时扩大了标准曲线线性范围.结果表明:银锡硼钼铅的检出限分别为0.0077μg/g、0.19μg/g、0.68μg/g、0.058μg/g、0.49μg/g,方法精密度在3.23％ ～9.39％之间.应用本方法分析土壤、水系沉积物、岩石国家一级标准物质的测定值与其认定值相符,△logC值的绝对值均小于0.10;实际样品和外控样的一次测试结果合格率分别为92％ ～98％、100％.本方法简单,分析速度快,避免了样品稀释带来的污染,使用多条分析谱线测定国家标准物质,相比传统发射光谱法使用单分析谱线的测定值更加接近认定值,检出限优于《地质矿产实验室测试质量管理规范》的规定值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘建坤		8	44	2.0	6.0
2	沈加林		18	152	5.0	12.0
3	黄海波		5	4	1.0	2.0
4	陈宇		3	8	1.0	2.0