内置测温光纤导致的高压电缆本体故障解析

• 作者: 方静 李旭 林国洲 陈云飞 魏占朋
• 来源期刊: 山东电力技术
• 学科: 工学
• 关键词: 内置光纤 耐压局放 高频局部放电 X光检测
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 电网技术
• 页码范围: 15-19
• 页数: 5页
• 分类号: TM247
• 字数: 2541字
• 语种: 中文

摘要

近年,国内交联聚乙烯高压电缆本体故障比例有所升高,主要原因之一是铝护套与外半导电层之间的缓冲层有白色粉末析出,导致接触电阻增大从而引起缓冲层烧蚀.结合连续两次发生的由内置测温光纤导致电缆本体故障的案例,通过电缆解体分析、光纤外皮绝缘检测和耐压同步局部放电等方式,发现外护套为绝缘材质的内置光纤将进一步加速白色粉末析出,产生悬浮电压导致电缆故障.建议采用局部放电在线检测、X光检测等方式开展疑似电缆的日常检测工作.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏占朋		8	9	1.0	3.0
2	林国洲		6	3	1.0	1.0
3	李旭	国网天津市电力公司电力科学研究院	8	6	2.0	2.0
4	陈云飞		4	0	0.0	0.0
5	方静		2	0	0.0	0.0