混响室法欠模状态屏蔽体屏蔽效能测试技术研究

• 作者: 周忠元 彭光辉
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 屏蔽壳体 欠模状态 混响室 屏蔽效能 长线天线 谐振
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TN06
• 字数: 3197字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2020.04.001

摘要

欠模状态下屏蔽壳体内部场分布不均匀,屏蔽效能测量结果与位置相关,因此需要利用探头或单极子天线进行多位置测量,过程繁琐.文中利用长线天线来测量欠模状态下屏蔽壳体屏蔽效能,并与单极子天线测量结果进行比较.在暗室中测量天线自由空间反射系数S11;在混响室中利用不同天线测量屏蔽壳体的屏蔽效能,并利用S22分析腔体谐振特性.测量结果表明,长线天线宽频带匹配特性优于单极子天线,测量的屏蔽效能能够更好地反映屏蔽体谐振特性,为屏蔽壳体的屏蔽效能测试评估提供了指南,具有工程应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周忠元	东南大学机械工程学院	39	126	7.0	9.0
2	彭光辉	东南大学机械工程学院	1	0	0.0	0.0