片式电阻防硫化可靠性技术研究

• 作者: 唐万军 张世莉 肖玲
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 片式电阻 硫化 非封闭结构
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 环境适应性和可靠性
• 页码范围: 46-49,56
• 页数: 5页
• 分类号: TN406|V438+.4
• 字数: 3183字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2020.01.012

摘要

针对某模块产品中片式电阻出现硫化失效问题,通过对片式电阻硫化的机理研究,结合高可靠非封闭结构产品及使用环境要求,开展了多种质量等级电阻、工艺方案、工艺材料的耐硫化环境试验.通过多组试验的对比,提出了非封闭结构产品中片式电阻防硫化的可靠性技术解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖玲	中国电子科技集团公司第二十四研究所	11	25	3.0	4.0
2	张世莉	中国电子科技集团公司第二十四研究所	11	49	3.0	7.0
3	唐万军	中国电子科技集团公司第二十四研究所	17	102	6.0	10.0