典型国产双极工艺宇航用稳压器单粒子闩锁效应研究

• 作者: 付晓君 刘伟鑫 孔泽斌 彭克武 楼建设 汪波 罗宇华 韦锡峰
• 来源期刊: 宇航学报
• 学科: 工学
• 关键词: 双极工艺 宇航用稳压器 重离子辐照 单粒子闩锁效应 损伤机理
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 环境试验与器件
• 页码范围: 245-250
• 页数: 6页
• 分类号: TP212.14|TN386.5
• 字数: 3555字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3873/j.issn.1000-1328.2020.02.014

摘要

通过对某国产双极工艺宇航用稳压器进行不同LET值重离子辐照试验,实时监测器件输出电压的变化幅度和器件供电管脚电流,准确评估了器件抗单粒子效应性能.研究结果表明器件发生单粒子瞬态效应阈值小于5 MeV·cm2·mg-1,当辐照重离子LET值增加至37.37 MeV·cm2·mg-1时,诱发器件产生单粒子闩锁效应,器件供电管脚电流由6 mA陡增至24 mA.在分析重离子试验数据的基础上,借助脉冲激光获得了器件内部单粒子效应敏感区域位置和结构特征.分析认为由于芯片内部多个功能模块共用一个隔离岛,同一个隔离岛内的器件之间形成的寄生PNP管与隔离岛内NPN管形成了PNPN可控硅结构,当入射重离子LET值足够大时将诱发寄生PNPN结构导通,进入闩锁状态.采用模拟软件Spectre实现了电参数级的瞬态故障注入模拟,复现了该双极工艺结构下单粒子闩锁效应现象.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韦锡峰		11	37	3.0	6.0
2	汪波		1	0	0.0	0.0
3	罗宇华		1	0	0.0	0.0
4	刘伟鑫		3	9	1.0	3.0
5	孔泽斌		2	6	1.0	2.0
6	楼建设		1	0	0.0	0.0
7	彭克武	中国电子科技集团有限公司第二十四研究所	4	1	1.0	1.0
8	付晓君	中国电子科技集团有限公司第二十四研究所	4	4	1.0	1.0