一种压电半导体纳米线的热电耦合性能研究

• 作者: 张巧云 李鑫飞
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 压电半导体 有限元法 热电耦合 温度 材料非线性
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 材料、结构及工艺
• 页码范围: 384-388,394
• 页数: 6页
• 分类号: TN304.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.16818/j.issn1001-5868.2020.03.016

摘要

采用有限元分析方法,研究了一种n型压电半导体纳米线(氧化锌)的电热耦合性能,分析了外部温度对氧化锌纳米线内部机械场、电场及电流场分布的影响,并讨论了本构方程线性化对电学参数的影响.研究结果表明,温度对氧化锌纳米线的电场、载流子浓度和电流密度影响很大,采用线性本构和非线性本构求得的电场、电子浓度和电流密度最大相差分别为24％,32％和68％,基于非线性本构分析压电半导体的电学性能会引起很大误差.该研究结果可为压电半导体器件利用温度调控电场、电流提供理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李鑫飞	郑州大学力学与安全工程学院	1	0	0.0	0.0
2	张巧云	郑州大学力学与安全工程学院	5	1	1.0	1.0