某型号八位微控制器失效类型分析

• 作者: 李岳林 王天畅
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 八位微控制器 失效分析 ESD现象 浪涌
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 13-16
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2020.06.004

摘要

某型号八位微控制器是一款CMOS微控制器芯片,可原位替代Philips的P89C51RD2器件.在实际应用中,该器件曾发生过多种类型的失效问题,为更精准分析器件失效原因,总结经验教训,提高产品可靠性,以实际案例为基础,阐述了该型号八位微控制器器件的四种主要失效类型及对其适用的分析方法.所采用的分析方法对于快速定位该器件失效问题提供了必要助益,最终准确查找到失效原因.该法也可为其他器件的失效分析提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王天畅		1	0	0.0	0.0
2	李岳林		1	0	0.0	0.0