基于双目面结构光的高反光物体自适应条纹方法

• 作者: 彭文君 方振卫 李春梅 柳星星 薛海峰 赵世红
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 工学
• 关键词: 面结构光 高反光物体 自适应条纹 相位误差
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 433-437
• 页数: 5页
• 分类号: TP394.1|TH691.9
• 语种: 中文

摘要

在高反光物体的表面形貌视觉测量过程中,物体的镜面反射特性会导致获取的图像部分区域过曝而产生错误的计算结果.为解决这一问题,首先对自适应条纹算法进行改进优化,以减少使用面结构光测量过程中的投影次数,提高运算速度;然后对最大投影亮度进行调整,并在此基础之上实现了一种测量高反光物体形貌的双目面结构光算法.实验结果表明,该算法可以有效减轻所述对象表面的过曝程度,减少高反光物体表面测量的噪点和无效点,提高测量数据的质量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛海峰		11	4	1.0	1.0
2	赵世红		4	1	1.0	1.0
3	方振卫		5	1	1.0	1.0
4	李春梅		2	0	0.0	0.0
5	柳星星		1	0	0.0	0.0
6	彭文君		1	0	0.0	0.0