超高精度面形干涉检测技术进展

• 作者: 伍凡 何一苇 侯溪 全海洋 吴高峰 张帅 胡小川 贾辛 陈强
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 先进光学制造 超精密光学 光学测量 面形检测 干涉检测 绝对检测
• 年，卷（期）: 2020,（8）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 14-26
• 页数: 13页
• 分类号: TN247|TH741
• 字数: 3785字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12086/oee.2020.200209

摘要

深紫外、极紫外光刻、先进光源等现代光学工程牵引驱动超精密光学技术持续发展,超精密光学制造要求与之精度相匹配的超高精度检测技术.作为核心技术指标之一的面形精度通常要求达到纳米、深亚纳米甚至几十皮米量级,超高精度面形干涉检测技术挑战技术极限,具有重要研究意义和应用价值.本文分析了面形干涉检测技术发展趋势,主要介绍了中国科学院光电技术研究所近年来在超高精度面形干涉检测技术相关研究进展.