HMX晶体颗粒微结构的原位变温X射线小角散射

• 作者: 刘佳辉 段晓惠 田强 白亮飞 石婧 闫冠云
• 来源期刊: 含能材料
• 学科: 化学
• 关键词: 小角散射 广角散射 奥克托今(HMX) 缺陷 相变
• 年，卷（期）: 2020,（9）
• 所属期刊栏目: 含能材料晶体学
• 页码范围: 848-853
• 页数: 6页
• 分类号: TJ55|O64
• 字数: 3957字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11943/CJEM2020070

摘要

为了研究温度作用下奥克托今(HMX)晶体的微结构演化和热安定性,使用原位变温X射线小角散射(SAXS)和广角散射(WAXS),对比研究了平均粒径为5μm和20μm两种HMX晶体颗粒的缺陷演化和相变行为.WAXS结果表明,HMX(5μm)的β→δ相变起始温度为194℃,比HMX(20μm)的相变起始温度高8℃.Guinier定理拟合分析表明,两种HMX晶体在150℃均开始生成微缺陷,其回转半径约为0.9 nm;随温度升高,微缺陷的体积分数增加,高温下生成的微缺陷在降温过程不会消失;HMX(20μm)的微缺陷含量高于HMX(5μm).微缺陷的累积会导致HMX晶体内部生成微裂纹,甚至发生开裂.SAXS、WAXS和扫描电镜观测结果均表明HMX(5μm)具有更为优异的热安定性.讨论了微缺陷的生成机制,以及微缺陷对HMX感度的潜在影响.