X射线荧光光谱法测定釉料中Al2O3含量的测量不确定度分析

• 作者: 余静端 吴秀銮 林雪茵
• 来源期刊: 陶瓷
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光光谱仪 釉料 三氧化二铝 不确定度 分析
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 色釉料
• 页码范围: 46-49
• 页数: 4页
• 分类号: TQ174.1+8
• 字数: 2601字
• 语种: 中文

摘要

笔者对波长色散X射线荧光光谱(WDXRF)分析用熔铸玻璃片法制样测定釉料中Al2O3含量的测量不确定度进行评定.分析了测量不确定度的来源,建立了数学模型并进行分量评定,计算了合成不确定度和扩展不确定度,最后完成了不确定度报告,从而获得较为完整的定量分析报告.这不仅给出了仪器的实验标准偏差,而且通过对不确定度来源的分析,找到影响测量不确定度的主要原因,并加以改进.同时也对WDXRF法检测其他硅酸盐原料中各元素含量测量不确定度的评定具有指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴秀銮		1	0	0.0	0.0
2	林雪茵		4	1	1.0	1.0
3	余静端		5	1	1.0	1.0