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摘要:
离子束溅射(IBS)系统具有稳定的沉积速率和良好的工艺重复性,然而在沉积初期其速率仍会发生变化.为研究其变化规律,采用离子束溅射技术,以Nb2O5和Al2O3为高低折射率材料,制备了中红外波段高反膜,用傅里叶变换红外光谱仪测试了膜层的反射率光谱曲线,采用扫描电镜测试了膜层的断面形貌,结果显示膜层厚度随着层数的增加而减小.通过光谱反演的方法,建立沉积速率随时间呈指数变化的模型,通过优化设计,使理论曲线与实测结果的吻合程度大大提高,均方根误差由10%下降至1.5%.研究结果为时间监控方式下的膜厚修正提供了参考依据.
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文献信息
篇名 离子束溅射沉积速率变化规律研究
来源期刊 光学与光电技术 学科 物理学
关键词 离子束溅射 沉积速率 光谱拟合 膜厚监控 中红外
年,卷(期) 2020,(6) 所属期刊栏目 材料与器件
研究方向 页码范围 86-90
页数 5页 分类号 O484.4
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
离子束溅射
沉积速率
光谱拟合
膜厚监控
中红外
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学与光电技术
双月刊
1672-3392
42-1696/O3
大16开
武汉市阳光大道717号
38-335
2003
chi
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