RoHS测试领域X荧光光谱仪的校准与性能验证

• 作者: 高坚
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 关键词: RoHS筛选测试 X荧光光谱法 校准 性能验证
• 年，卷（期）: 2020,（8）
• 所属期刊栏目: 标准化研究
• 页码范围: 43-47
• 页数: 5页
• 语种: 中文

摘要

基于保障RoHS筛选测试领域XRF仪器设备性能状态的角度,分析了当前RoHS检测领域XRF设备校准现状及应用局限性.通过实际案例分析当前的XRF设备校准并不能完全满足RoHS筛选测试的技术要求.通过分析GB/T 33352-2016《电子电气产品中限用物质筛选应用通则X射线荧光光谱法》的相关要求,得出定期依据该标准对XRF设备进行性能验证,并结合标准中人员和测试过程要求,是RoHS筛选测试结果准确性和可信度的标准化保障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高坚		10	15	2.0	3.0