表面纳米粒子缺陷的偏振散射特性区分

• 作者: 何晓博 王治乐 郭继锴 陆敏 高萍萍
• 来源期刊: 中国光学
• 学科: 物理学
• 关键词: 瑞利粒子 缺陷类型 偏振散射模型 模型适用范围 最佳观测条件
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 原创文章
• 页码范围: 975-987
• 页数: 13页
• 分类号: O436.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.37188/CO.2020-0083

摘要

为了区分纳米量级的表面上方颗粒物灰尘与表面下方气泡粒子这两种表面缺陷,且获得该方法的适用环境与最佳观测条件,根据瑞利散射理论结合偏振双向反射分布函数,建立了两种表面缺陷的偏振散射模型并进行了验证.在此基础上,通过仿真分析得到不同缺陷环境、不同观测条件对两种表面缺陷粒子偏振散射特性的影响.结果 表明:利用p偏振光入射表面,而后探测p偏振光的双向反射分布函数值随散射方位角的变化趋势可区分两种表面缺陷;无论表面下方气泡粒子位置如何改变,均不影响该趋势的变化情况;不同光学元件表面材料、缺陷粒子种类、缺陷粒子大小对两种表面缺陷的偏振散射模型有一定影响,但整体趋势不变.实验中,针对本文所述两种表面缺陷进行区分时,可选取入射角度和探测散射角度均为45°,采用较小波长入射光进行实验.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王治乐		42	633	14.0	24.0
2	陆敏		6	0	0.0	0.0
3	高萍萍		3	0	0.0	0.0
4	郭继锴		2	0	0.0	0.0
5	何晓博		1	0	0.0	0.0