温度对RTV修复后复合套管电气特性影响的研究

• 作者: 孙孟婷 梁英 王祥念 董平平 高婷
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 温度 RTv 介质损耗因数 介电常数 体积电阻率
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 测试与分析
• 页码范围: 83-87
• 页数: 5页
• 分类号: TM216
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2020.01.015

摘要

为研究温度对室温硫化硅橡胶(RTV)修复后复合套管电气特性的影响,制备涂覆有不同厚度RTV的双层介质试样,观察试样在不同温度下的介质损耗因数、介电常数和体积电阻率的变化情况.结果 表明:随着温度的升高,RTV双层介质试样的介质损耗因数急剧上升,介电常数缓慢增大,体积电阻率则呈现下降趋势;不同厚度的双层介质试样的介质损耗因数、介电常数和体积电阻率随温度的变化趋势一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁英		32	565	15.0	23.0
2	高婷		5	2	1.0	1.0
3	董平平		5	5	1.0	2.0
4	孙孟婷		1	0	0.0	0.0
5	王祥念		1	0	0.0	0.0