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摘要:
在采用散斑自相关方法,对基于辅助参考物的赝热光透过散射介质成像过程进行数值模拟的基础上,讨论了当成像范围超出一个光学记忆效应时,重建目标的质量随之变差的情况.通过对处在不同子光学系统的目标物和参考物,不断改变其点扩散函数的相关度,来近似等效它们超出光学记忆效应范围的程度,得出能够容忍的相邻光学记忆效应范围最低的点扩散函数相关度,并分析了点扩散函数的相关度对重建目标像质量的影响.随着相邻光学子系统点扩散函数的相关度逐渐降低,成像效果也逐渐变差.当这一相关度值低于0.3839时,重构图像已无法用肉眼分辨.对于同一相关度的点扩散函数,其空间分布函数并不影响成像效果的变化.同时,在相邻散斑相互叠加形成叠加散斑的过程中,叠加面积与模拟成像效果呈正比关系,即随着散斑叠加面积的减少,成像效果逐渐变差.
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文献信息
篇名 基于辅助参考物的穿透散射介质成像分析
来源期刊 光学与光电技术 学科 物理学
关键词 散射介质 光学记忆效应 自相关 点扩散函数 图像恢复
年,卷(期) 2020,(3) 所属期刊栏目 图像与信号处理
研究方向 页码范围 81-87
页数 7页 分类号 O438
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
散射介质
光学记忆效应
自相关
点扩散函数
图像恢复
研究起点
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期刊影响力
光学与光电技术
双月刊
1672-3392
42-1696/O3
大16开
武汉市阳光大道717号
38-335
2003
chi
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