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摘要:
研究了针对加密电路的扫描旁路攻击方法和安全扫描设计技术,考虑到现有的安全扫描设计存在故障覆盖率损失或者抵抗攻击性不足的问题,提出一种新的基于授权机制的抗扫描旁路攻击方法.该方法充分利用功能指令序列多样性和高复杂度的特点,通过功能指令序列对测试模式进行授权,将测试模式分为非安全测试模式和安全测试模式.非安全测试模式下,加密电路的密钥被屏蔽,无法通过扫描测试获取.安全测试模式下,加密电路可以进行正常的扫描测试.实验结果表明,采用上述基于授权机制的抗扫描旁路攻击方法的电路后,不仅可以保证安全测试模式下扫描测试故障覆盖率不变,而且非安全测试模式下攻击者无法通过现有的攻击方式获取密钥.同原始电路相比,该方法只需要添加极少的硬件电路,面积开销仅为0.3%.
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文献信息
篇名 基于授权机制的抗扫描旁路攻击方法研究
来源期刊 高技术通讯 学科
关键词 扫描旁路攻击 密钥 功能指令 安全测试模式 扫描设计
年,卷(期) 2020,(9) 所属期刊栏目 计算机与通信技术
研究方向 页码范围 875-883
页数 9页 分类号
字数 语种 中文
DOI 10.3772/j.issn.1002-0470.2020.09.001
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研究主题发展历程
节点文献
扫描旁路攻击
密钥
功能指令
安全测试模式
扫描设计
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
高技术通讯
月刊
1002-0470
11-2770/N
大16开
北京市三里河路54号
82-516
1991
chi
出版文献量(篇)
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39217
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