扫描电镜及X射线能量散射谱分析镍氢电池极片

• 作者: 戴超华 王玲 符长平
• 来源期刊: 电池
• 学科: 工学
• 关键词: SEM X射线能量散射谱(EDS) 镍氢(MH/Ni)电池 极片 异物分析
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 测试分析
• 页码范围: 98-101
• 页数: 4页
• 分类号: TM912.2
• 字数: 3280字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19535/j.1001-1579.2020.01.024

摘要

用SEM和X射线能量散射谱(EDS)对多批次镍氢(MH/Ni)电池异物不良极片进行分析.用SEM找出异物所在的微区位置,在不同放大倍数下对异物的微观形貌进行观察:钴(Co)不良区域颗粒大小为1～10μm,呈条状结构;氧化锌(ZnO)不良区域颗粒大小≤1μm,呈方形结构;正常区域的Ni(OH)2颗粒大小为2～15μm,呈球形结构.用EDS对元素成分及分布情况进行分析,说明异物不良区域主要是由钴粉、氧化锌、铜颗粒和碳/氟等的聚集引起.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王玲		1	0	0.0	0.0
2	符长平		1	0	0.0	0.0
3	戴超华		1	0	0.0	0.0