参数自适应的液晶屏幕缺陷检测框架

• 作者: 何勇军 刘望 谢怡宁 邵慧丽 陈德运
• 来源期刊: 哈尔滨理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷检测 高斯差分滤波 饱和度 参数自适应
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 测控技术与通信工程
• 页码范围: 75-82
• 页数: 8页
• 分类号: TP399
• 语种: 中文
• DOI: 10.15938/j.jhust.2020.05.011

摘要

液晶显示屏生产过程中不可避免存在缺陷,需要检测以确保质量.人工检测工作量大、准确率低、迫切需要一种高效而准确的自动化检测方法.为此,提出了一种新的参数自适应的缺陷检测框架,主要包括提取屏幕区域、预处理、阈值分割、缺陷选择.通过参数的自适应调整,使检测方法适应各种复杂的情况.在阈值分割时,针对光照影响的问题,采用自适应调整阈值参数的方式分割缺陷区域.首先计算图像的最大灰度值,然后根据无缺陷图像确定固定参数,缺陷图像确定系数,最后在固定参数和最大灰度值与系数之积中选择最大值作为阈值分割的最小阈值.在检测饱和度缺陷时,针对低分辨率相机拍摄的图像明暗差异小的问题,采用自适应调整曝光参数采集图像分别处理明暗程度差异大的不同图像部分.实验表明,该方法能高效准确地检测点类、线类、Mura和饱和度缺陷.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈德运		143	1570	22.0	31.0
2	何勇军		17	65	6.0	7.0
3	谢怡宁		16	42	4.0	6.0
4	刘望		1	0	0.0	0.0
5	邵慧丽		1	0	0.0	0.0