基于ATE的数控电位计非线性误差测试优化

• 作者: 何立 季伟伟 张凯虹
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 数控电位计 非线性误差 ATE
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 21-24
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.1009

摘要

非线性误差是反映数控电位计精度的一项重要指标,针对ATE测试系统数字通道与模拟通道存在阻容负载及通道间耦合电容、影响数控电位计非线性误差精度测量的问题,通过在数控电位计滑动端与测试机模拟通道之间加入高输入阻抗电压跟随器,保证输出测试值不变的情况下使滑动端与后级负载形成开路,从而消除测试机负载对非线性误差的影响,实现数控电位计非线性误差的高精度测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	季伟伟		1	0	0.0	0.0
2	张凯虹		1	0	0.0	0.0
3	何立		1	0	0.0	0.0