一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容错方法

• 作者: 常龙鑫 洪广伟 虞致国 郭俊 顾晓峰
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 可靠性设计 RISC-V 检查点和回滚恢复
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 30-36
• 页数: 7页
• 分类号: TP302.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.1002

摘要

随着特征尺寸的不断减小,CMOS集成电路更容易受到软错误的影响,可靠性设计已成为处理器设计中的重要考虑因素之一.基于对RISC-V特权级别、系统上下文、映射方法的研究,提出了一种面向RISC-V处理器的检查点和回滚恢复方法,并基于此实现了一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容软错误架构.在基于Artix-7开发板实现的e203RISC-V内核中对该容错架构进行了仿真试验.试验结果表明,所提方法可以实现预期的容软错误功能,提高了RISC-V处理器的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	顾晓峰		115	265	9.0	11.0
2	虞致国		26	46	4.0	5.0
3	常龙鑫		1	0	0.0	0.0
4	郭俊		1	0	0.0	0.0
5	洪广伟		1	0	0.0	0.0