电感耦合等离子体发射光谱法测定高纯铝中硅

• 作者: 叶晓英 张佩佩 李刚 杨峥 谢文博
• 来源期刊: 化学分析计量
• 学科: 化学
• 关键词: 电感耦合等离子体发射光谱法 高纯铝 硅元素
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 30-33
• 页数: 4页
• 分类号: O657.3
• 字数: 3171字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-6145.2020.03.007

摘要

建立电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)法测定高纯铝中硅元素的分析方法.样品采用碱溶法进行预处理,以氢氧化钠溶液溶解,再加入盐酸、硝酸酸化.选取了硅251.611 nm分析谱线进行分析.硅的质量分数在0.001％～0.01％范围内与光谱强度具有良好的线性关系,线性相关系数为0.9991.该方法检出限为0.00012％,测定结果的相对标准偏差不大于10.2％(n=8),加标回收率为93.2％～104.2％.该方法操作简便,测定结果准确、可靠,适用于快速检测高纯铝中硅元素,具有推广价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李刚		10	4	1.0	1.0
2	谢文博		1	0	0.0	0.0
3	杨峥		1	0	0.0	0.0
4	张佩佩		1	0	0.0	0.0