电阻率成像技术在不良地质探测中的应用研究

• 作者: 崔爱珍 高丙山
• 来源期刊: 天津建设科技
• 学科: 工学
• 关键词: 电阻率成像 探测 不良土体 地下勘察 地质条件
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 建筑工程
• 页码范围: 59-61
• 页数: 3页
• 分类号: TU472
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-3197.2020.05.020

摘要

针对城市地下勘察孔位难以布置、孔数无法密布涵盖全部,对地下不良、空洞、松散等地质条件难以判定等问题展开研究,提出采用电阻率成像探测法对地下不良土体进行测探,以实际工程为例,论述该方法的探测原理,对探测结果进行技术分析,提出解决方案.