X射线衍射在安检技术领域的研究进展

• 作者: 徐捷 方恺 李明涛 杨宝璐 王新 穆宝忠
• 来源期刊: 物理实验
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线衍射 能量色散 晶体结构 安检
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 所属期刊栏目: 前沿导读
• 页码范围: 6-16
• 页数: 11页
• 分类号: O434.12
• 语种: 中文
• DOI: 10.19655/j.cnki.1005-4642.2020.10.001

摘要

能量色散X射线衍射能够从分子结构上实现对晶体类违禁品的识别,因而成为解决安检领域违禁品精确查缉的新途径.本文简述了晶体的X射线衍射、角度色散(ADXRD)和能量色散(EDXRD)X射线衍射理论.围绕安检领域违禁品检测,介绍了能量色散X射线衍射的光学构型、特点及发展历程.分析能量色散X射线衍射安检技术在检测效率、技术难度及成本等方面遇到的问题与挑战,介绍了同济大学提出的复合式安检方案(对初检后存疑的物品进行EDXRD检测),并详细介绍了具体研发的螺旋阵列式EDXRD系统,实现了垂直方向的大范围探测,利用该系统对违禁品进行测试,检测准确率高达90％以上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方恺		44	168	6.0	11.0
2	穆宝忠		20	64	5.0	7.0
3	王新		16	21	3.0	4.0
4	徐捷		7	0	0.0	0.0
5	李明涛		1	0	0.0	0.0
6	杨宝璐		2	0	0.0	0.0